苹果m1ultrafusion封装技术解析( 三 )
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▲通过Die-Stitching提高良率并降低成本(US20220013504A1)
6)通过Die-Stitching技术有效提升封装良率降低成本
UltraFusion中 , 仅将KGD(KnownGoodDie)进行键合 , 这样避免了传统的WoW(WaferonWafer)或CoW(ChiponWafer)中失效的芯粒被封装的问题 , 进而提升封装后的良率 , 降低了整体的平均成本 。(坏的芯片越少 , 在固定的流片和研发费用前提下 , 单芯片平均成本就越低)
04.
结语:为更强算力芯片提供想象空间
本文中 , 我们从苹果公司和台积电的专利和论文出发 , 对UltraFusion技术进行了初步的解析 。
UltraFusion充分结合了封装互连技术、半导体制造和电路设计技术 , 为整合面积更大、性能更高的算力芯片提供了巨大的想象空间 , 为计算架构的发展提供了非常好的助力和参照 。
【苹果m1ultrafusion封装技术解析】本文来自微信公众号“芯东西”(ID:aichip001) , 作者:陈巍千芯科技 , 36氪经授权发布 。
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