划片机:晶圆加工第二篇—关于晶圆氧化过程,这些变量会影响它的

氧化
氧化过程的作用是在晶圆表面形成保护膜 。它可以保护晶圆不受化学杂质影响、避免漏电流进入电路、预防离子植入过程中的扩散以及防止晶圆在刻蚀时滑脱 。
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氧化过程的第一步是去除杂质和污染物 , 需要通过四步去除有机物、金属等杂质及蒸发残留的水分 。清洁完成后就可以将晶圆置于800至1200摄氏度的高温环境下 , 通过氧气或蒸气在晶圆表面的流动形成二氧化硅(即“氧化物”)层 。氧气扩散通过氧化层与硅反应形成不同厚度的氧化层 , 可以在氧化完成后测量它的厚度 。
干法氧化和湿法氧化
根据氧化反应中氧化剂的不同 , 热氧化过程可分为干法氧化和湿法氧化 , 前者使用纯氧产生二氧化硅层 , 速度慢但氧化层薄而致密 , 后者需同时使用氧气和高溶解度的水蒸气 , 其特点是生长速度快但保护层相对较厚且密度较低 。
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【划片机:晶圆加工第二篇—关于晶圆氧化过程,这些变量会影响它的】除氧化剂以外 , 还有其他变量会影响到二氧化硅层的厚度 。首先 , 晶圆结构及其表面缺陷和内部掺杂浓度都会影响氧化层的生成速率 。此外 , 氧化设备产生的压力和温度越高 , 氧化层的生成就越快 。在氧化过程 , 还需要根据单元中晶圆的位置而使用假片 , 以保护晶圆并减小氧化度的差异 。