普科科技prbtek开关损耗测试方案介绍

如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件 , 如MOSFET和IGBT 。这些器件提供了快速开关速度 , 能够耐受没有规律的电压峰值 。同时在On或Off状态下小号的功率非常小 , 实现了很高的转化效率 , 热损耗极低 。
开关设备极大程度上决定了SMPS的整体性能 。开关器件的损耗可以说是开关电源中最为重要的一个损耗点 , 课件开关损耗测试是至关重要的 。接下来普科科技PRBTEK就开关损耗测试方案中的探头应用进行介绍 。
普科科技prbtek开关损耗测试方案介绍
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上图使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探头
以上方案中通过示波器专门的开关损耗算法 , 配合泰克探头 , 完美补偿探头延迟 , 减少了开关损耗运算过程中产生的误差 。测试结果极为可靠 。
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TCP0030A及THDP0200参数
探头外观图
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TCP0030A
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THDP0200
【普科科技prbtek开关损耗测试方案介绍】附:常见参数介绍
1、带宽 , 代表了探头可测到的最大信号频率
2、共模抑制比 , 代表了探头抑制共模干扰的能力 , 越大代表抑制能力越强
3、输入电容 , 代表探头对于被测系统的负载影响 , 输入电容越低 , 影响越小测试效果越佳
以上内容由普科科技prbtek为您分享 , 如果您在选型/使用过程有什么问题 , 咨询普科科技官网:www.prbtek.com
公司目前致力于示波器测试附件配件研发、生产、销售 , 涵盖产品包含电流探头、差分探头、高压探头、无源探头、电源纹波探头、柔性电流探头、近场探头、逻辑探头、功率探头和光探头等 。